Разговор с экспертом — Оптимизация условий анализа тонких плёнок, повышаем точность 16 ноября 2021
Завершающий вебинар серии «Разговор с экспертом» посвящён более детальному анализу тонких пленок, где Вы сможете задать свои вопросы.
Исследования тонких пленок и их применение — одно из основных направлений в различных областях современной промышленности.
Значительная часть фундаментальных исследований и имеющихся структурных данных реализованы с использованием технологий рентгеновского рассеяния. На этом вебинаре мы обсудим важный шаг перед измерением: позицонирование. Этот этап, которому часто забывают уделять должное внимание, имеет решающее значение для получения корректных результатов. Мы обсудим стратегии позиционирования в ориентире на скорость и точность для приложений GIXRD, XRD и HRXRD. Будем рассмотрен ряд примеров и типичных проблем. Плановая длительность презентационной части 20 минут, остальное время будет посвящено ответам на вопросы.
Ждём Ваши вопросы на электронную почту askanexpert@malvernpanalytical.com или используйте хэштег #MPexpert в Twitter.
До встречи на вебинаре!
Дата:
16 ноября 2021
Время:
10:30 — 11:30 (US & Canada)
Тип события:
Вебинар — прямой эфир
Оригинальное название вебинара:
Ask an expert — Optimizing alignment for better thin film measurements
Язык:
Английский
Оборудование:
Тип измерения:
Анализ тонких плёнок
Технологии:
Отраслевое применение:
Наука