Zetasizer Nano S – это система динамического рассеяния света исследовательского класса для измерения размера и молекулярной массы частиц меньше микрона, сочетающая в себе производительность, универсальность и исключительную простоту эксплуатации. Система допускает возможность последующего обновления для дополнительного измерения дзета-потенциал.
Обзор продукта
технические характеристики
Zetasizer Nano S – лучший выбор в ситуации, когда требуется высочайшая чувствительность и широчайший диапазон измерения размеров частиц. По возможностям гранулометрического анализа он не уступает флагману серии Zetasizer Nano ZS.

Это гранулометр для еще более точного обнаружения агрегатов и измерения небольших или разбавленных образцов, а также образцов с высокой концентрацией плюс анализатор молекулярной массы для измерения размера и массы молекул.

Измерения методом статического рассеяния света позволяют определять второй вириальный коэффициент, который, в свою очередь, является мерой растворимости молекул.

  • Оборудование внесено в Госреестр СИ.
  •  Измерение размеров от 0,3 нм (в диаметре) до 10 микрон с использованием запатентованной технологии NIBS (неинвазивное обратное рассеяние).
  • Измерение молекулярной массы от 980 Да.
  • Измерение второго вириального коэффициента для определения растворимости.
  • Автоматизированные измерения динамики изменения температуры.
  • Концентрации образцов от 0,1 ppm до 40 %.
  • Измерение размеров в растворе белков с концентрацией 0,1 мг/мл (лизоцимы).
  • Фактор качества является гарантией достоверности данных.
  • Функция экспертной помощи позволяет оптимизировать процедуру пробоподготовки или измерения.
  • Программная опция 21CFR part 11 обеспечивает соответствие требованиям создания электронных записей/электронных подписей.
  • Программная опция выполнения исследований открывает доступ к прочим возможностям и алгоритмам анализа для специалиста в области рассеянии света.
  • Автоматизация измерений с помощью опционального автотитратора.
  • Возможность работы в потоковом режиме для использования системы в качестве детектора ГПХ.
  • Альтернативный лазер мощностью 50 мВ при длине волны 532 нм для образцов, несовместимых со стандартным лазером с длиной волны 633 нм.
  • Опциональный оптический фильтр для улучшения измерений флуоресцирующих образцов.
  • Опция увеличения диапазона температур до 120 ºC.
  • Системы допускают возможность последующего обновления для дополнительного измерения дзета-потенциал.

Информационная брошюра Видео-демонстрация Свидетельство СИ

Размер частиц и размер молекул

Диапазон измерения: 0,3 нм – 10,0 микрон* (диаметр)
Принцип измерения: Динамическое Рассеяние Света
Минимальный объём образца: 12 мкл
Точность: Лучше, чем +/-2 % при использовании латексных образцов, соответствующих стандартам NIST
Точность/повторяемость:: Лучше, чем +/-2 % при использовании латексных образцов, соответствующих стандартам NIST
Чувствительность: 0,1 мг/мл (лизоцимы)

Абсолютная молекулярная масса

Диапазон измерения: 980 Да – 20 MДа*
Принцип измерения: Статическое рассеяние света с использованием графика Дебая
Минимальный объём образца: 12 мкл (требуется 3–5 концентраций образца)
Точность: +/- 10 % (типичная)
Точность/повторяемость: Лучше, чем +/-2 % при использовании латексных образцов, соответствующих стандартам NIST
Диапазон регулирования температур: 0 °C − 90 °C +/-0,1**, опционально 120°C.
Источник света: Гелий-неоновый лазер с длиной волны 633 нм, макс. мощность 4 мВт
Лазерная безопасность: Класс 1
Источник питания: 100 ВА

Масса и габариты

Габариты (Ш, Г, В): 320 мм, 600 мм, 260 мм (Ш, Г, В)
Вес: 21 кг

Условия эксплуатации

Температура: 10 °C – 35 °C
Влажность: 35 % - 80 % (без конденсации)

Примечания

*: Максимальный диапазон, зависит от свойств образца.
**: При 25 °C
Патенты: Серия Zetasizer Nano защищена следующими патентами: технология неинвазивного обратного рассеяния (NIBS) EP884580, US6016195, JP11051843; технология низко- и высокочастотного электрофореза (M3) EP1154266, US7217350, JP04727064; Измерения Светорассеяния с использованием нескольких углов детектирования EP2235501, CN102066901, JP2011523451, US20090251696; Измерение дзета-потенциала поверхности в погружной кювете WO2012172330.

Технологии

Динамическое рассеяние света (ДРС)
Статическое рассеяние света (СРС)