Morphologi 4 – это мощная платформа для характеризации морфологии частиц методом анализа статических изображений, позволяющая решать задачи оптимизации технологических процессов и высокоточного анализа частиц продуктов. Вы можете использовать платформу как для целей высокотребовательных научных исследований и разработки (R&D), так и в приложениях рутинного контроля качества (QC), с высокими требованиями к надежности данных, максимальной автоматизации (независимости от оператора) и валидации результатов.
Обзор продукта
технические характеристики
  • Анализ размеров частиц в широком диапазоне: от 0.5 мкм до более чем 1300 мкм — оптимально в том числе для качественного измерения полидисперсных образцов
  • Более 20 морфологических параметров — основа качественной характеризации и лучшего понимания материала/образца
  • Полная автоматизация измерительного процесса в режиме Стандартных Операционных Процедур (SOP/СОП) — от диспергирования образца до анализа данных, обеспечивает простоту, надежность и воспроизводимость получаемых результатов
  • Инновационная технология «Sharp Edge» для максимальной чувствительности и надежного анализа слабоконтрастированных частиц
  • Режим ручной микроскопии и возможность возврата к изучаемым частицам позволяют более детально изучить и классифицировать «инородные» частицы
  • Микроскоп высокого разрешения — основа качественных изображений и эффективного анализа данных
  • Встроенный диспергатор порошкообразных материалов обеспечивает качественное воспроизводимое диспергирование образца, что крайне важно для получения объективных результатов
  • Специальные ячейки и адаптеры для анализа суспензий/эмульсий и фильтров, а также порошкообразных материалов на различных предметных стеклах
  • Высокотехнологичные средства обработки данных позволяют наиболее полно характеризовать образцы
  • Соответствие нормативным требованиям — программная опция 21CFR Часть 11
Информационная брошюра Видео-демонстрация

Основные параметры

Метод: Автоматизированный анализ статических изображений
Размер анализируемых частиц: 0.5 мкм – 1300 мкм* (для определенных приложений верхний предел может быть расширен*)
Определяемые свойства частиц: Размер, форма, прозрачность, количество, положение (на подложке)
Параметры размера частиц: Диаметр эквивалентной по площади окружности (CE/ЭО), длина, ширина, периметр, площадь, максимальный линейный размер, объем эквивалентной сферы (SE/ЭС), общая длина волокна, диаметр волокна
Параметры формы частиц: Удлинение, округлость, выпуклость, относительное удлинение, высокочувствительная (HS/ВЧ) округлость, компактность, удлинение волокна, прямолинейность волокна
Параметры прозрачности частиц: Средняя интенсивность, стандартное отклонение интенсивности
Встроенный модуль диспергирования: Для автоматического диспергирования сухих порошков. Контроль давления при диспергировании, времени впрыска и оседания осуществляется вручную или по SOP/СОП.
Источник света: Белый светодиод: метод светлого поля в отраженном и проходящем свете, метод темного поля в отраженном свете.
Опциональный поляризатор/анализатор и опция для дифференциально-интерференционного контраста (DIC) – ожидается в первой половине 2019.
Детектор: 18-мегапиксельная цветная CMOS-матрица с разрешением 4912 x 3684. Размер пикселя 1.25 мкм х 1.25 мкм
Оптическая система: Nikon CFI 60 c системой тёмного/светлого поля
Объектив (характерный размерный диапазон): 2.5x: 8.5 мкм – 1300 мкм (номинальный)
5x: 4.5 мкм – 520 мкм (номинальный)
10x: 2.5 мкм – 260 мкм (номинальный)
20x: 1.5 мкм – 130 мкм (номинальный)
50x: 0.5 мкм – 50 мкм (номинальный)

Масса и габариты:

Габариты (Ш, Г, В): 810 мм x 520 мм x 685 мм
1100 мм х 520 мм x 685 мм (с ручками для переноски)
Масса: 76 кг (84 кг с ручками для переноски)
Электропитание: 100-240 В, 50/60 Гц (<100 Вт)

Условия эксплуатации:

Источник питания: 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц, 5.0 A
Температура: От +10 до +40 °C (от +50 до 95 °F)
Температура хранения: От -20 до +50 °C (от -104 до +122 °F)
Влажность: 0 – 95 % без конденсации
Нормативы: CE, LVD, VCCI, C-Tick, FCC

Примечания

*: Зависит от образца и подложки

Технологии

Анализ изображения